隨著電池技術(shù)的發(fā)展與市場(chǎng)要求，電池隔離膜越來(lái)越薄，然而由此帶來(lái)的安全隱患也越來(lái)越多，進(jìn)而需要對(duì)生產(chǎn)出來(lái)的電池產(chǎn)品進(jìn)行微短路測(cè)試。

早期稱(chēng)作Hi-pot測(cè)試（即高壓擊穿測(cè)試），而最早應(yīng)用Hi-pot測(cè)試的是鎳氫電池行業(yè)，當(dāng)時(shí)Hi-pot檢測(cè)借助的是萬(wàn)用表、兆歐表等儀器。隨著絕緣脈沖檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，在2002年左右，鎳氫電池行業(yè)的Hi-pot檢測(cè)逐漸被安規(guī)行業(yè)的AC/DC耐壓絕緣阻抗檢測(cè)儀（基于歐姆定律）所替代。

絕緣阻抗檢測(cè)儀的使用者們認(rèn)為，阻抗高就認(rèn)為電池絕緣性好，阻抗低就認(rèn)為電池絕緣性差。 其實(shí)，這種認(rèn)知是不準(zhǔn)確的。過(guò)去的電池行業(yè)沒(méi)有那么精細(xì)考慮的沒(méi)有那么完善，只是在主觀條件下認(rèn)為電池絕緣性能好就認(rèn)為電池是好的，但隨著電子產(chǎn)品終端使用的白熱化，鋰電池的安全隱患越來(lái)越被重視，從而催生了新型的檢測(cè)技術(shù)——絕緣脈沖檢測(cè)方法。

早在2000年左右，日本公司松下、索尼等公司已經(jīng)開(kāi)始在使用絕緣脈沖檢測(cè)技術(shù)。直到2007年底到2008年初的時(shí)候，絕緣脈沖檢測(cè)儀才被引入國(guó)內(nèi)市場(chǎng)。

關(guān)于Hi-pot測(cè)試/短路測(cè)試，其實(shí)本質(zhì)上關(guān)注的是電池隔離膜的缺陷，這個(gè)缺陷包括破孔、損傷、金屬粉塵、毛刺等，但不管什么原因造成的隔離膜缺陷，都會(huì)導(dǎo)致電池微短路情形的出現(xiàn)。

維泰克（www.givelive.cn）出品的絕緣脈沖測(cè)試儀檢出效率極高，測(cè)試級(jí)別為毫秒級(jí)，非常適合全自動(dòng)化的產(chǎn)線(xiàn)生產(chǎn)應(yīng)用。